高分子分析から物性測定まで

分析センターでは、物性試験、化学分析試験に用いる種々の機器を所有し、研究開発や技術改良の活動を支えています。

 

高分子及び
添加剤分析

微小領域の
構成元素分析

極表面分析

高分子物性測定・
耐久性評価

HPLC
（高速液体
クロマトグラフ）

EPMA
（電子プローブ
 マイクロアナライザー）

ESCA
（XPS：X線光電子分
 光分析装置）

サンシャイン
 ウエザーメーター
（耐候性試験機）
  • 分子量測定（GPC）
  • 添加剤分析（安定剤、可塑剤、滑剤、抗酸化剤、充填剤など）
  • 熱分析（TG／DTA、DSC、TMA、DMA）
  • 微小領域の構成元素分析
  • 元素分布（マッピング）分析
  • 混入異物分析
  • 極表面の構成元素分析
  • 極表面の状態分析
  • 電子材料の不良解析
  • 環境試験
  • オゾン試験
  • 引張り、曲げ、衝撃試験
  • 表面性試験（摩擦、剥離）
  • 耐候性試験（キセノン、サンシャイン、フェード）
  • 気体透過率測定

微量有機組成分析

一般化学品材料の
組成分析

微量元素分析

元素分析
（非破壊分析）

GC-MS
（ガスクロマトグラフ
－質量分析装置）

FT-IR
（フーリエ変換
 赤外分光光度計）

ICP-AES
（誘導結合プラズマ
発光分光分析装置）

蛍光X線分析装置
  • アウトガス分析
  • 残留溶剤分析
  • 熱分解生成物分析
  • 有機材料の組成（FT-IR、GC-MS）
  • 無機材料の組成（XRD）
  • 異物分析（顕微FT-IR）
  • 微量金属分析（ICP-AES）
  • 不純物イオン分析（イオンクロマト）
  • 欧州規制WEEE＆RoHSに対応したCd、Pb等の環境規制物質の分析
  • 元素組成分析（XRF）
  • 異物分析（μ-EDX）
  • 欧州規制WEEE＆RoHSに対応したCd、Pb等の環境規制物質の分析