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分析センター

高分子分析から物性測定まで

分析センターでは、物性試験、化学分析試験に用いる種々の機器を所有し、研究開発や技術改良の活動を支えています。

高分子及び
添加剤分析
微小領域の
構成元素分析
極表面分析 高分子物性測定・
耐久性評価
HPLC
(高速液体
クロマトグラフ)
EPMA
(電子プローブ
マイクロアナライザー)
ESCA
(XPS:X線光電子分
光分析装置)
サンシャイン
ウエザーメーター
(耐候性試験機)
  • 分子量測定(GPC)
  • 添加剤分析(安定剤、可塑剤、滑剤、抗酸化剤、充填剤など)
  • 熱分析(TG/DTA、DSC、TMA、DMA)
  • 微小領域の構成元素分析
  • 元素分布(マッピング)分析
  • 混入異物分析
  • 極表面の構成元素分析
  • 極表面の状態分析
  • 電子材料の不良解析
  • 環境試験
  • オゾン試験
  • 引張り、曲げ、衝撃試験
  • 表面性試験(摩擦、剥離)
  • 耐候性試験(キセノン、サンシャイン、フェード)
  • 気体透過率測定
微量有機組成分析 一般化学品材料の
組成分析
微量元素分析 元素分析
(非破壊分析)
GC-MS
(ガスクロマトグラフ
-質量分析装置)
FT-IR
(フーリエ変換
赤外分光光度計)
ICP-AES
(誘導結合プラズマ
発光分光分析装置)
蛍光X線分析装置
  • アウトガス分析
  • 残留溶剤分析
  • 熱分解生成物分析
  • 有機材料の組成(FT-IR、GC-MS)
  • 無機材料の組成(XRD)
  • 異物分析(顕微FT-IR)
  • 微量金属分析(ICP-AES)
  • 不純物イオン分析(イオンクロマト)
  • 欧州規制WEEE&RoHSに対応したCd、Pb等の環境規制物質の分析
  • 元素組成分析(XRF)
  • 異物分析(μ-EDX)
  • 欧州規制WEEE&RoHSに対応したCd、Pb等の環境規制物質の分析
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